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 | 本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。配置不同的探头,适用于不同场合。是材料保护和生产控制必备仪器。 适用范围:   HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
 主要功能: 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量;
 三种校准方法: 一点校准、二点校准、基本校准;
 显示分辨率: 0.1μm(测量范围小于100μm)
 1μm (测量范围大于100μm)
 有两种工作方式:直接方式和成组方式
 有两种测量方式:连续测量和单次测量
 有两种关机方式:手动关机和自动关机
 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警,并可用直方图对一批测量值进行分析;
 有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理;
 打印功能:可打印测量测量值、统计值、限界、直方图
 测量范围: (1)F400探头、N400探头:0—400μm
 (2)F1探头、F1/90探头、N1探头:0—1250μm
 (3)F10探头:0—10000μm
 (4)CN02探头:10-200μm(根据测量要求选用不同探头)
 测量精度: 不同探头精度要求不同
 (1)F400探头、N400探头:一点校准:(2%+0.7);二点校准:(1%+0.7)
 (2)F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头:一点校准:(2%+1);二点校准:(1%+1)
 (3)F10探头:一点校准:(2%+10);二点校准:(1%+10)
 使用温度: 0~40℃
 外型尺寸: 150×80×30m
 重 量: 250g
 功能 HS2100F HS2100N HS3100 HS4100
 测量原理 磁性 涡流 磁性/涡流 磁性/涡流
 测量范围 标准配置探头(F1/N1):1~1250μm
 测量精度 ±(2%H+1)μm(零点校准)
 ±[(1~3)%H+1] μm(二点校准)
 统计量 平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)
 存贮和统计 15个测量值
 测量精度 ±(2%H+1)μm(零点校准)
 ±[(1~3)%H+1] μm(二点校准)
 零点校准 √ √ √ √
 二点校准 √ √ √ √
 删除功能 √ √ √ √
 自动关机 √ √ √ √
 蜂鸣声提示 √ √ √ √
 测量方式 √ √ √ √
 欠压指示 √ √ √ √
 错误提示 √ √ √ √
 标准配置 主机
 F1探头
 基体
 校准片
 说明书
 包装箱 主机
 选配件 F1、F400、F10测头
 N1、N400测头
 通讯软件
 F1、F400、F10测头
 N1、N400测头
 
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