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ST-2000/ST-4000/ST-5000/ST-6000/ST-7000/ST-8000/ST4080-OSP超精密光学薄膜厚度测试仪
ST-2000/ST-4000/ST-5000/ST-6000/ST-7000/ST-8000/ST4080-OSP超精密光学薄膜厚度测试仪
0302068
西安明克斯为您提供ST-2000/ST-4000/ST-5000/ST-6000/ST-7000/ST-8000/ST4080-OSP超精密光学薄膜厚度测试仪,欢迎选购。

一、ST-2000/ST-4000/ST-5000/ST-6000/ST-7000/ST-8000/ST4080-OSP超精密光学薄膜厚度测试仪技术参数:

ST-2000
平台尺寸
 150 x 120mm(70 x 50mm行程)
测量范围
 200A~35um(取决于薄膜类型)
测点尺寸
 一般20um
测量速度
 1 sec/site
应用领域
 Polymers : PVA, PET, PP, PR
  Dielectrics : SiO 2, TiO 2 , ITO, ZrO 2 , Si 3 N 4
  Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS.
  *Supporting up to 3 Layers
  *Supporting Backside Reflection
镜  筒
 三筒
目  镜
 内倾四孔转换器
放大倍率
 40× ~ 500×
照明类型
 12V 35W卤素灯 内置控制器及变压器
ST-4000
平台尺寸
 500mm x 300mm (200mm x 200mm行程)
测量范围
 100A~50um(取决于薄膜类型)
测点尺寸
 40um/20um/10um
  4um(可选)
测量速度
 1 sec/site
应用领域
 兼容 ST2000 型所有应用 & 测量更精确
  测量Wafer & OLED
选  件
 可编程自动X-Y-Z平台
对  焦
 同轴粗调及微调
入射照明
 12V 100W卤素灯
ST-5000
平台尺寸
 500mm x 500mm (300mm x 300mm行程)
测量范围
 100A~50um(取决于薄膜类型)
测点尺寸
 40um/20um/10um
  4um(可选)
测量速度
 1 sec/site
应用领域
 兼容 ST2000 型所有应用 & 测量更精确
  测量大尺寸Wafer
选  件
 参考试样
  防震台
  自动对焦
  CCD摄像头
回转目镜
 内倾四孔转换器
对  焦
 同轴粗调及微调
入射照明
 12V 50W卤素灯
ST-6000
平台尺寸
 1300mm x 1100mm
  自动厚度测量
测量范围
 100A~50um(取决于薄膜类型)
测点尺寸
 40um/20um/10um/4um(可选20,10,5,2um)
测量速度
 1~2 sec/site
应用领域
 Polymers : PVA, PET, PP, PR
  Dielectrics : SiO 2 , TiO 2 , ITO, ZrO 2 , Si 3 N 4
  semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS...
  PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP
  Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass
  Intended for TFT-LCD, STN-LCD
选  件
 可编程自动X-Y-Z平台
  自动对焦
  CCD摄像头
ST-7000
平台尺寸
 1700mm x 1200mm
  自动厚度测量
测量范围
 100A~50um(取决于薄膜类型)
测点尺寸
 40um/20um/10um/4um
测量速度
 1~2 sec/site
应用领域
 Polymers : PVA, PET, PP, PR
  Dielectrics : SiO 2 , TiO 2 , ITO, ZrO 2 , Si 3 N 4
  semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS...
  PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP
  Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass
  Intended for Large size PDP
选  件
 可编程自动X-Y-Z平台
  自动对焦
  CCD摄像头
功  能
 Pattern Identification by Pattern Maching
  Entry-level CD Measurement
ST-8000
平台尺寸
 1300mm x 1100mm
  全自动厚度测量
测量范围
 100A~25um亚微米级尺寸
测点尺寸
 ~0.2um x 0.2um
测量速度
 14sec/Area
应用领域
 兼容 ST6000 / ST7000 所有应用
选  件
 自动对焦
  CCD摄像头
功  能
 Pattern Identification by Pattern Maching
  Entry-level CD Measurement
  亚微米级尺寸表面上的薄膜厚度测量 
ST4080-OSP
ST4080-OSP(有机可焊性保护膜)专用于分析测量PCB/PWB上OSP涂层铜铂厚度。它属于使用分光反射法的非破坏性光学测量仪,可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料,使得实时检测无需任何的样品制备。由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能,适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP在半导体,平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性已经得到了证实。
为什么要选择 ST4080-OSP?
ST4080-OSP 使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。
ST4080-OSP 无需样品制备,可确保快速和简便操作。
ST4080-OSP 测量的光斑尺寸可减小到0.135,这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度.
ST4080-OSP 与紫外可见分光计,受迫离子束方法,时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较,它基于更可靠的测量技术。
ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。
ST4080-OSP 可提供各点和它们的平均厚度的详细数据,这样可帮助人们更好地控制OSP质量。
ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序最优化。
波长范围
420nm ~ 640nm
厚度测量范围
350A ~ 3μm
最小光斑尺寸
1.35 μm, 0.135 μm
目标面积
864X648 μm / 86.4X64.8 μm
物镜转动架
5X(spot size 20 μm), 50X(spot size 0.2 μm)
测量层
1
固定样台面积
270mm(L) X 240mm(D)
Z轴再现性
± 1 μm
自动Z装置
Z direction Head Movement
Travel range: 50mm
Max. velocity: 50mm/s
特征
Non-destructive OSP thickness measurement
No sample preparation for fast and easy operation
Available to detect OSP coating on Cu with rough surface conditions
Auto-focusing function
3D contours results

TEL:15319737635
QQ:2841034937  

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